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材料表面形貌分析
原子力顯微鏡(AFM)
橢偏儀 (VB-400)
掃描探針顯微鏡(SPI3800N)
FEI Tecnai G2 F20場發射透射電子顯微鏡(TEM)
JEM-2010高分辨透射電子顯微鏡(TEM)
場發射掃描電子顯微鏡 (Zeiss Merlin )
日立SU8010 場發射掃描電鏡(SEM)
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順磁共振波譜儀(EPR)
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Master-60型全自動孔隙度儀(壓汞儀)
高性能研究級比表面及孔徑分析儀(BET)
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麥克2020氣體吸脫附儀(BET)
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高分辨回旋共振質譜儀(ICR-MS)
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傅里葉變換顯微紅外光譜儀(FTIR)
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HORIBA顯微激光拉曼光譜儀 (LabRAM HR Evolution)
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